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借助 SpeedFit 设计仿真软件缩短比较分析的时间
Adam Anders
Oct 21, 2021
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相较于基于硅或绝缘栅双极型晶体管之类的传统技术,碳化硅(SiC)元件拥有明显的优点,因此很多应用都能从运用 SiC 元件中获益。但是使用 SiC 器件进行参数设计并不是一个很简单的过程。无论是开发新产品还是升级此前的设计,最好在确定拓扑和器件选择之前的早期设计阶段对器件进行仿真和优化。
SpeedFit 设计仿真软件是一款基于 PLECS 的在线系统级电路仿真软件,旨在多个关键领域提供帮助,例如器件间比较和拓扑比较、并联设计配置、热管理,以及评估硬件性能(如半导体损耗和电感器/变压器波形),以帮助适应特定的电路拓扑或芯片组。
SpeedFit 开关和传导损耗建模
对于 SiC MOSFET 来说,可以分析三种典型的损耗源。首先是开启时的损耗 (Eon),其次是关断时的损耗 (Eoff),最后是“导通”时的导通损耗(表示为 Pconduction)。因此,总功率损耗可以表示为:
图 1 显示了栅极信号脉冲以及 Vds、Ids 和 Ploss 与信号在开关状态下的关系。
在导通状态下,导通功率损耗取决于结温(TJ)和漏极电流(ID)。查找表中保存了不同 VDS 与 ID 在不同温度下的曲线,可通过插值法得到“导通”电压。由于漏电流非常低,因此在关断状态下的功率损耗可以忽略。